Sensofar共聚焦白光干涉儀|測量原理

增強型光學測量技術

Sensofar共聚焦白光干涉儀雖然一開始作為高性能 3D 光學輪廓儀設計，但是我們的某些系統所有現有的光學輪廓儀，集所有技術于一身。

Sensofar共聚焦白光干涉儀條紋投影非常適合大面積測量，垂直 精度和可重復性高，系統噪聲低。

產品陣容

技術組合

我們的Sensofar共聚焦白光儀系統采用不同光學測量技術進行工作，一部分系統采用組合技術。聚集這些技術的優點，外加技術和操作軟件，成就市場上競爭力的高級測量設備。

為何使用四合一技術？

采用 Sensofar 的四合一法 – 正如 S neox 系統那樣 – 在軟件中單擊一次就可將系統切換到適合當前任務的技術

S neox 傳感器頭采用 4 種測量技術 – Ai 多焦面疊加、共聚焦、干涉 & 光譜反射 – 因此每種技術都是實現系統通用性的重要因素，有利于減少數據采集時不希望發生的缺陷，同時提供 Sensofar 的表面測量性能。

技術

微顯示是關鍵!

Sensofar共聚焦白光干涉儀的系統采用微顯示掃描技術。

微顯示以硅基鐵電體液晶 (FLCoS) 技術為基礎，打造沒有運動零件的快速切換裝置，

使共聚焦圖像掃描快速、可靠、精確。微顯示器結合高分辨率掃描臺和可更換物鏡，

構成了一套靈活的光學系統。