在光學玻璃、電子顯示屏、精密儀器制造等領域，玻璃表面質量直接影響產品的光學性能和使用壽命。Sensofar共聚焦白光干涉儀作為先進的三維表面形貌測量設備，憑借其獨特的多技術融合優勢，為玻璃表面質量檢測提供了高精度、非接觸式的解決方案。

　　一、核心技術優勢

　　Sensofar設備創新性地整合了共聚焦顯微鏡、白光干涉儀和相位差干涉三大技術，通過智能軟件實現無縫切換：

　　1.白光干涉模式：針對玻璃等光滑表面（如光學鏡片、手機蓋板），提供納米級垂直分辨率，可精確測量表面粗糙度Ra值至0.1nm級別

　　2.共聚焦技術：在測量玻璃邊緣或帶微結構的表面時（如3D曲面玻璃），保持70°斜面測量能力，橫向分辨率達0.10μm

　　3.相位差干涉：對超光滑玻璃基板（如半導體晶圓）實現亞納米級精度檢測

　　其自有的真彩色共聚焦成像技術，通過RGB三色LED照明還原真實色彩，便于識別玻璃表面的微觀缺陷。

　　二、玻璃檢測典型應用

　　1.光學玻璃質量管控

　　①測量透鏡表面的PV值（峰谷值）和RMS粗糙度；

　　②檢測鍍膜前基板的平整度；

　　③識別拋光過程中的劃痕、麻點等缺陷（分辨率達亞微米級）。

　　2.電子玻璃表面分析

　　①檢測手機/平板蓋板玻璃的邊緣倒角曲率；

　　②測量ITO導電膜的涂層均勻性；

　　③評估鋼化玻璃的應力紋分布。

　　3.特殊工藝驗證

　　①測量化學蝕刻玻璃的微結構深度；

　　②分析夾層玻璃中間層的結合界面質量。

　　三、智能檢測流程

　　1.樣品準備：將玻璃試樣置于防震平臺，選擇合適倍率物鏡（5×-150×）；

　　2.模式選擇：通過SensoSCAN軟件自動匹配測量模式；

　　3.數據采集：5軸系統確保全表面覆蓋，尤其適合異形玻璃檢測；

　　4.分析輸出：自動生成三維形貌圖、粗糙度曲線、缺陷分布報告。

　　Sensofar設備支持小視野高精度與大范圍快速掃描的靈活切換，單次測量即可獲取表面形貌、粗糙度、波紋度等20余項參數。其非接觸式測量特性避免了傳統接觸式探針可能造成的玻璃損傷，特別適合超薄玻璃（厚度＜0.5mm）的檢測需求。

　　在顯示面板、光伏玻璃、光學器件等制造領域，Sensofar共聚焦白光干涉儀正成為質量控制的關鍵工具，為玻璃表面質量提供從納米到微米尺度的全面表征能力。