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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節光闌。

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ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

澤攸臺式掃描電鏡文物修復的微觀損傷評估儀文物修復需平衡“保護”與“修復”，微觀損傷評估是關鍵。青銅器的銹層結構、書畫的顏料老化程度、陶瓷的開片痕跡，需高倍率觀測才能判斷處理方式。澤攸臺式掃描電鏡為文物修復提供了更科學的微觀評估依據。

澤攸臺式掃描電鏡新能源的微觀性能優化儀新能源技術突破依賴于材料微觀結構的優化。鋰電池電極的SEI膜生長、光伏薄膜的晶粒排列、氫燃料電池的催化劑分散狀態，均需微觀觀測指導工藝改進。澤攸臺式掃描電鏡為新能源領域提供了動態、實時的微觀性能優化工具。