核心技術(shù)特點

澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案 澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案

多功能激勵模塊

• 集成熱學、電學、力學等多物理場激勵功能

• 溫度控制范圍通常為室溫至1000℃

• 最大施加電壓可達200V

• 力學加載分辨率可達毫牛量級

樣品適配設(shè)計

• 標準樣品窗口尺寸為500×500μm

• 兼容主流透射電鏡樣品桿接口

• 支持液體環(huán)境實驗（選配）

• 低熱漂移結(jié)構(gòu)設(shè)計

信號采集系統(tǒng)

• 集成高靈敏度傳感器

• 實時數(shù)據(jù)同步采集功能

• 多通道信號輸出接口

• 兼容電鏡圖像同步記錄

典型應(yīng)用方向

1. 納米材料在外場作用下的結(jié)構(gòu)演變研究

2. 催化劑材料反應(yīng)過程的原位觀察

3. 低維材料機電性能表征

4. 功能材料相變行為分析

5. 微納器件工作機理研究

操作注意事項

• 需在專業(yè)人員指導下安裝使用

• 實驗參數(shù)設(shè)置建議循序漸進

• 高溫實驗需注意熱平衡時間

• 定期檢查電氣連接狀態(tài)

• 建議配合防震措施使用

技術(shù)支持服務(wù)

澤攸科技提供以下專業(yè)支持：

• 系統(tǒng)安裝與操作培訓

• 實驗方案設(shè)計咨詢

• 定期維護保養(yǎng)服務(wù)

• 專用配件供應(yīng)保障

• 數(shù)據(jù)分析方法指導

產(chǎn)品價值體現(xiàn)

該原位MEMS系統(tǒng)通過其多場耦合的實驗能力和精密的微納結(jié)構(gòu)設(shè)計，為透射電鏡下的動態(tài)觀測研究提供了實用的技術(shù)手段。系統(tǒng)適用于需要在外場條件下研究材料微觀結(jié)構(gòu)變化的科研領(lǐng)域。澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案