大視野高效測量：Sensofar S wide

當(dāng)面對尺寸較大的樣品或需要統(tǒng)計性分析大面積表面時，傳統(tǒng)的顯微鏡視野往往顯得局促。Sensofar S wide大視野3D光學(xué)輪廓儀，專門為解決此類問題而設(shè)計，它能夠在單次測量中捕獲最大10 x 10 mm2的區(qū)域，兼顧了視野廣度與細節(jié)深度。

產(chǎn)品細節(jié)與性能

S wide的核心特點是其超大的測量視野和快速掃描能力。它采用經(jīng)過優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)，即使在視野邊緣也能保持良好的成像質(zhì)量和測量精度。其高速掃描模式可以快速完成對大面積的測量，顯著提升了檢測吞吐率，非常適合生產(chǎn)節(jié)拍要求高的應(yīng)用場景。

盡管視野巨大，但它并未犧牲功能性。它同樣支持共聚焦和白光干涉兩種測量技術(shù)，用戶可以根據(jù)樣品的特性選擇最合適的模式，既能應(yīng)對粗糙表面，也能分析光滑表面。

用材與參數(shù)

S wide采用了與S neox相同標準的精密機械結(jié)構(gòu)和高質(zhì)量光學(xué)玻璃，確保了大視野下的圖像不失真和測量的穩(wěn)定性。大型樣品臺承重能力較強，可容納各種尺寸的樣品。

主要參數(shù)示例：

• •最大單次測量視野： 10 x 10 mm2

• •技術(shù)： 共聚焦與白光干涉

• •垂直分辨率： < 0.01 nm (干涉模式)

• •橫向分辨率： 可達1.1 μm

• •樣品臺： 可選多種尺寸和行程的電動平臺

用途與使用說明

S wide在諸多領(lǐng)域都有用武之地，例如：分析金屬、紙張、紡織品、高分子薄膜等材料的表面紋理和磨損；測量大面積光柵或菲涅爾透鏡的面形；評估顯示屏面板的涂層質(zhì)量等。

操作流程簡便：放置樣品后，在軟件中選擇低倍物鏡，框選需要測量的大區(qū)域，設(shè)備即可自動完成拼接掃描。其軟件提供強大的分析功能，可以從宏觀大數(shù)據(jù)中提取有統(tǒng)計意義的表面參數(shù)，為用戶提供全面的表面質(zhì)量評估報告。

大視野高效測量：Sensofar S wide