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產品中心三維光學輪廓儀布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100布魯克ContourX輪廓儀：專注高效小樣品檢測
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布魯克ContourX輪廓儀：專注高效小樣品檢測在對于專注于微型器件、材料小樣片或需要進行高通量測量的用戶而言，儀器的緊湊性和測量效率顯得尤為重要。布魯克ContourX-100三維光學輪廓儀正是針對這類應用場景優化設計的經濟型產品。
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對于專注于微型器件、材料小樣片或需要進行高通量測量的用戶而言，儀器的緊湊性和測量效率顯得尤為重要。布魯克ContourX-100三維光學輪廓儀正是針對這類應用場景優化設計的經濟型產品。
ContourX-100采用了相對緊湊的設計，其樣品臺行程為100 x 100 x 100毫米，最大樣品高度為100毫米。這個尺寸對于測量MEMS傳感器、微型光學透鏡、光纖端面、小型軸承、材料摩擦實驗樣塊等樣品來說已經足夠。較小的臺面尺寸意味著更快的移動速度和更短的定位時間，從而提升了單次測量的整體效率。
雖然定位在入門至中級級別，但ContourX-100的核心測量技術與同系列型號一脈相承。它同樣采用白光干涉原理，能夠提供可信賴的納米級垂直分辨率數據。儀器的基座和框架結構經過優化設計，在保證剛性和穩定性的同時，降低了整機成本。
該型號通常標配常用的物鏡，如10倍、20倍和50倍，足以應對大多數小樣品的微觀形貌觀測需求。其軟件系統包含了ContourX系列的全套分析工具，從基本的形貌顯示、粗糙度分析到復雜的三維參數計算，確保用戶獲得全面的數據支持。
使用說明： ContourX-100的操作流程簡潔明了。放置樣品后，用戶可在軟件上直接控制臺面運動，選擇測量點。點擊開始后，儀器自動完成掃描。對于需要批量檢測的相同樣品，可以預先設置好測量點位序列，進行自動連續測量，非常適合生產線上的抽檢或研發中的快速篩選。
總結來說， ContourX-100是一款側重于實用性、效率和經濟性的三維光學輪廓儀。它舍棄了部分大型樣品的測量能力，換來了更小的占地面積、更快的測量節奏和更易接受的入門成本，為預算有限或任務集中的用戶提供了一個切實可行的表面計量方案。
布魯克ContourX輪廓儀：專注高效小樣品檢測