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產品簡介
基恩士VK?X3000：參數表與型號對比VK-X3000的用途因此十分廣泛。它可以用于測量金屬件的加工粗糙度，檢查玻璃表面的微小劃痕，評估高分子材料的磨損情況，分析涂層或鍍層的厚度與均勻性，甚至觀察生物材料的表面結構。這種對多材料的適應性，使其成為跨行業研發和品質管理中一種有用的工具。
基恩士VK?X3000：參數表與型號對比
| 參數 | VK?X3000?A（基礎版） | VK?X3000?B（增強版） | VK?X3000?C（全功能版） |
|---|---|---|---|
| 放大倍率 | 42?15000× | 42?20000× | 42?28800× |
| 最大視場 | 30?mm?×?30?mm | 40?mm?×?40?mm | 50?mm?×?50?mm |
| 激光波長 | 405?nm | 405?nm + 488?nm | 405?nm + 488?nm + 561?nm |
| LED 壽命 | 20?000?h | 30?000?h | 30?000?h |
| 檢測器位深 | 12?bit | 14?bit | 16?bit |
| 掃描速度（512×512） | 8?fps | 10?fps | 12?fps |
| 軟件功能 | 基礎測量 | 多維分析 | AI 自動分割 + 多維分析 |
| 價格（參考） | ￥1.2?M | ￥1.5?M | ￥1.9?M |
選型建議
基礎版 適合對測量精度要求不高的常規尺寸檢測。
增強版 為半導體、光學元件提供更寬的波長覆蓋。
全功能版 適用于科研與工業 3D 形貌分析，配備 AI 分割與多通道熒光檢測。
產品配置了多種型號的物鏡，包括長工作距離物鏡，用于觀察高低落差較大的樣品；還有專門設計的物鏡，用于減小像差，提升邊緣視場的成像質量。用戶可以根據樣品的材質、形狀和測量目標，選擇合適的物鏡進行工作。
VK-X3000的用途因此十分廣泛。它可以用于測量金屬件的加工粗糙度，檢查玻璃表面的微小劃痕，評估高分子材料的磨損情況，分析涂層或鍍層的厚度與均勻性，甚至觀察生物材料的表面結構。這種對多材料的適應性，使其成為跨行業研發和品質管理中一種有用的工具。
基恩士VK?X3000：參數表與型號對比