在光學元件制造領(lǐng)域，透鏡、棱鏡、反射鏡等產(chǎn)品的表面質(zhì)量直接決定了光學系統(tǒng)的成像效果與性能。哪怕是微米級的面型誤差或細微劃痕，都可能導(dǎo)致光線折射、反射異常，影響最終使用體驗。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光學輪廓儀 S neox，憑借對微觀表面的精準捕捉能力與適配光學元件檢測的特性，成為光學元件制造過程中質(zhì)量控制的關(guān)鍵工具，為各類光學元件的表面檢測提供可靠支持。
從光學元件的檢測核心需求來看，面型誤差、表面粗糙度、曲率精度是三大關(guān)鍵指標，且均需達到納米或微米級別的檢測精度。S neox 搭載的 3D 共聚焦白光干涉技術(shù)，恰好能滿足這一嚴苛要求。其垂直分辨率達到納米級別，可清晰識別光學元件表面幾納米的高低起伏，精準測量面型誤差。以凸透鏡制造為例，在研磨拋光后，通過 S neox 對透鏡表面進行全面掃描，能獲取完整的 3D 輪廓數(shù)據(jù)，計算出透鏡的面型偏差是否符合設(shè)計標準，避免因面型不精準導(dǎo)致的成像模糊、畸變等問題。
針對不同類型的光學元件，S neox 的檢測范圍與適配性表現(xiàn)突出。對于小尺寸的微型透鏡（如手機攝像頭中的鏡頭），其最小檢測區(qū)域可精確至幾微米，能聚焦透鏡中心區(qū)域的細微結(jié)構(gòu)，測量邊緣的曲率過渡是否平滑；對于大尺寸的望遠鏡反射鏡，檢測范圍可擴展至數(shù)毫米，實現(xiàn)對反射鏡表面的全覆蓋掃描，確保整體面型均勻。同時，設(shè)備配備的多層鍍膜精密鏡頭組，能減少光線在檢測過程中的反射與散射干擾，尤其適合透明或半透明光學元件（如石英棱鏡）的檢測，可清晰呈現(xiàn)元件內(nèi)部是否存在氣泡、雜質(zhì)，以及表面劃痕的深度與長度，避免傳統(tǒng)檢測方式中因光線穿透問題導(dǎo)致的缺陷遺漏。
在表面粗糙度檢測方面，S neox 內(nèi)置的專業(yè)分析算法可精準計算 Ra（算術(shù)平均偏差）、Rq（均方根偏差）等參數(shù)，且數(shù)據(jù)重復(fù)性優(yōu)異。光學元件的表面粗糙度直接影響光線的散射程度，例如激光鏡片若表面粗糙度過高，會導(dǎo)致激光能量損耗增加，影響激光傳輸效率。通過 S neox 對鏡片表面進行掃描，能快速獲取粗糙度數(shù)據(jù)，判斷拋光工藝是否達標，幫助制造企業(yè)優(yōu)化研磨材料與拋光時間，提升產(chǎn)品一致性。
從用材與設(shè)備穩(wěn)定性來看，S neox 也適配光學元件制造的潔凈環(huán)境需求。機身框架采用高強度鋁合金，重量輕且抗腐蝕，可適應(yīng)潔凈車間定期的無塵清潔，不易因環(huán)境濕度、清潔劑殘留出現(xiàn)部件老化；檢測平臺選用不銹鋼材質(zhì)，經(jīng)過精細打磨，平整度高，能穩(wěn)定承載各類光學元件，避免因平臺不平整導(dǎo)致的檢測誤差。同時，設(shè)備的抗振動設(shè)計可減少車間內(nèi)其他加工設(shè)備（如研磨機、切割機）運行時產(chǎn)生的振動干擾，確保在多設(shè)備協(xié)同工作的環(huán)境下，檢測數(shù)據(jù)依然穩(wěn)定可靠。
在實際操作中，S neox 針對光學元件的脆弱特性（易刮花、易破損）設(shè)計了便捷且安全的檢測流程。以石英棱鏡表面缺陷檢測為例，使用說明如下：首先，在潔凈工作臺上，將棱鏡放置在 S neox 檢測平臺的專用軟質(zhì)墊片上（避免金屬臺面直接接觸棱鏡表面造成劃痕），通過微調(diào)平臺夾具輕輕固定棱鏡，確保棱鏡在檢測過程中不位移，且夾具壓力適中不導(dǎo)致棱鏡變形；接著，打開配套檢測軟件，在 “光學元件檢測模板" 中選擇 “棱鏡檢測" 模式，根據(jù)棱鏡的尺寸（如 10mm×10mm×5mm）設(shè)置檢測區(qū)域（通常覆蓋棱鏡的兩個光學面），并調(diào)整掃描分辨率（針對表面缺陷檢測，可選擇較高分辨率以捕捉細微劃痕）；隨后，點擊 “開始檢測"，設(shè)備電動平移臺以微米級精度帶動棱鏡移動，共聚焦光學系統(tǒng)同步采集表面光學信號，實時生成三維輪廓圖像，過程中軟件會自動標記疑似缺陷區(qū)域（如劃痕、氣泡）；檢測完成后，軟件自動生成檢測報告，包含面型誤差值、表面粗糙度數(shù)據(jù)、缺陷位置與尺寸，用戶可通過 15 英寸高清觸控屏放大查看缺陷細節(jié)，也可將報告導(dǎo)出為 PDF 格式，附在產(chǎn)品質(zhì)檢文件中；最后，檢測結(jié)束后，用無塵布蘸取專用光學清潔劑輕輕擦拭棱鏡表面與檢測平臺，將棱鏡放入專用收納盒，關(guān)閉設(shè)備電源，完成檢測流程。
S neox 的參數(shù)配置進一步貼合光學元件檢測需求：檢測技術(shù)為 3D 共聚焦白光干涉技術(shù)，保障納米級檢測精度；檢測平臺移動精度達微米級，滿足光學元件微小區(qū)域的精準定位；軟件中的 “曲率計算" 模塊，可自動計算透鏡、反射鏡的曲率半徑與焦距，無需人工手動測量，減少人為誤差。此外，設(shè)備支持多種光學元件的檢測模板存儲，如透鏡、棱鏡、濾光片等，下次檢測同類型產(chǎn)品時可直接調(diào)用模板，縮短參數(shù)設(shè)置時間，提升檢測效率。
隨著光學元件向高精度、微型化方向發(fā)展（如 AR/VR 設(shè)備中的微型光學元件），對檢測設(shè)備的要求不斷提升。Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光學輪廓儀，以精準的檢測能力、靈活的適配性與安全的操作流程，為光學元件制造企業(yè)提供全流程質(zhì)量控制支持，幫助企業(yè)提升產(chǎn)品合格率，確保光學元件滿足各類光學系統(tǒng)的使用需求。
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