采用白光干涉（WLI）技術(shù)，具有高Z軸分辨率（<0.01nm）和水平分辨率（0.38μm Sparrow準則，0.13μm帶AcuityXR®）。

配備5百萬像素攝像頭和電動XY載物臺，支持2D/3D高分辨率測量。

最大掃描量程≤10mm，垂直分辨率<0.01nm，水平分辨率0.5μm（Sparrow準則），臺階高度準確性<0.75%，重復(fù)性<0.1% 1sigma。

樣品反射率范圍0.05%到100%，最大樣品高度≤100mm，XY平臺行程150mm。

防震設(shè)計穩(wěn)定，工作溫度15-30℃，適應(yīng)電子車間環(huán)境。

機身采用輕量化合金框架，防塵蓋板可拆卸，減少粉塵影響。

光學(xué)鏡頭使用高透光率玻璃，多層增透膜處理，減少反射光干擾。

樣品臺設(shè)計有彈性硅膠夾具，保護樣品表面，適應(yīng)不同形狀的元器件。

屬于ContourX系列，型號為ContourX-200，適用于半導(dǎo)體、眼科、醫(yī)療設(shè)備、MEMS、摩擦學(xué)等領(lǐng)域。

支持多種國際標準（如ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287）的定制化分析報告。

應(yīng)用于精密電子件、微型傳感器、PCB板線路、連接器引腳等檢測，以及科研和工業(yè)生產(chǎn)中的表面形貌分析。

操作面板防水防油，適應(yīng)車間環(huán)境。

支持手動與半自動模式，適應(yīng)不同樣品切換和批量檢測需求。

軟件系統(tǒng)為Vision64和VisionXpress，支持自動化功能如自動拼接、網(wǎng)格自動化、自動對焦等。

維護建議包括定期清潔光學(xué)鏡頭和樣品臺，性能驗證和校準，放置在潔凈、干燥、無強氣流和振動環(huán)境中。

垂直分辨率<0.01nm，水平分辨率0.5μm，最大掃描量程≤10mm，臺階高度準確性<0.75%，重復(fù)性<0.1% 1sigma，樣品反射率0.05%-100%，樣品高度≤100mm，XY平臺行程150mm，重量67kg，尺寸480mm(W)x604mm(D)x754mm(H)。