白光干涉儀S neox的數(shù)據(jù)分析深度

產(chǎn)品簡介

白光干涉儀S neox的數(shù)據(jù)分析深度;Sensofar S neox配套的SensoMAP軟件提供強(qiáng)大的深度數(shù)據(jù)分析功能，支持從粗糙度、尺寸到功能性參數(shù)的一鍵提取與批處理，高效轉(zhuǎn)化三維形貌為定量洞察。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-11-12

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維光學(xué)輪廓儀

布魯克 BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀 Sensofar 儀光新型共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR 3D光學(xué)輪廓儀 SENSOFAR共聚焦白光干涉儀 SENSOFAR結(jié)構(gòu)光三維輪廓儀 SENSOFAR平面度測量干涉儀 ZYGO三維光學(xué)輪廓儀布魯克三維光學(xué)輪廓儀

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白光干涉儀S neox的數(shù)據(jù)分析深度

獲取樣品表面的三維形貌數(shù)據(jù)是第一步，而從海量三維數(shù)據(jù)中提取出有意義的、與研究方向或質(zhì)量控制目標(biāo)直接相關(guān)的參數(shù)，才是測量的最終目的。Sensofar S neox 3D光學(xué)輪廓儀所配套的SensoMAP軟件，提供了豐富且深入的數(shù)據(jù)分析工具集，幫助用戶深度挖掘三維數(shù)據(jù)背后蘊(yùn)含的信息。

軟件的分析功能覆蓋了從基礎(chǔ)到高級(jí)的多個(gè)層面。最基本的分析包括表面粗糙度與波紋度分析。軟件內(nèi)置了符合ISO 25178等國際標(biāo)準(zhǔn)的一系列區(qū)域參數(shù)，如Sa（算術(shù)平均高度）、Sq（均方根高度）、Sz（最大高度）等，可以全面量化表面的紋理特征。同時(shí)，也支持符合ISO 4287的點(diǎn)、線參數(shù)分析，滿足不同行業(yè)的習(xí)慣標(biāo)準(zhǔn)。

除了通用的粗糙度參數(shù)，軟件還提供針對(duì)特定應(yīng)用的功能性分析模塊。例如：

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體積分析：對(duì)于摩擦學(xué)、密封性研究，可以計(jì)算磨損體積、材料損失量、或軸承的油槽容積。
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臺(tái)階高度與尺寸測量：可用于微電子行業(yè)測量刻蝕深度、線寬、圖形尺寸等。
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形狀與輪廓分析：可以將測量數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)幾何圖形（如直線、圓、平面）進(jìn)行擬合，評(píng)估工件的直線度、圓度、平面度等形位公差。
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孔隙率分析：對(duì)于多孔材料或涂層，可以識(shí)別并統(tǒng)計(jì)孔隙的數(shù)量、面積、深度分布。

軟件強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力還體現(xiàn)在對(duì)測量結(jié)果的后期處理上。用戶可以進(jìn)行傾斜校正、去除形狀誤差（Form Removal）、應(yīng)用濾波器（高斯濾波、中值濾波等）以分離粗糙度和波紋度。這些功能對(duì)于去除裝夾傾斜或基板固有曲率的影響，從而真實(shí)反映所關(guān)注表面尺度的特征至關(guān)重要。

數(shù)據(jù)的可視化對(duì)于理解分析結(jié)果非常有幫助。SensoMAP軟件能夠生成高質(zhì)量的三維形貌圖、二維輪廓曲線、偽彩圖等，并允許用戶自由旋轉(zhuǎn)、縮放視角，從不同角度觀察樣本。分析結(jié)果可以方便地導(dǎo)出為圖像、圖表或數(shù)據(jù)表格，便于撰寫報(bào)告和學(xué)術(shù)論文。

此外，軟件的批處理分析和宏記錄功能，允許用戶將一套復(fù)雜的分析流程保存下來，應(yīng)用于批量測量的所有數(shù)據(jù)上，自動(dòng)生成統(tǒng)一的報(bào)告，極大地提升了數(shù)據(jù)分析的效率。

綜上所述，Sensofar S neox的價(jià)值不僅在于其能夠獲取高精度的三維數(shù)據(jù)，更在于其配套軟件所提供的深度數(shù)據(jù)分析能力。它將原始的點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為具有明確物理意義和工程價(jià)值的定量參數(shù)，幫助用戶在科研和工業(yè)檢測中做出基于數(shù)據(jù)的判斷。