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白光干涉儀S neox：從二維到三維的視野，突破二維觀察局限，通過三維形貌測量精準量化表面高度、粗糙度及輪廓尺寸，實現從“看”到“量”的跨越，為表面分析提供客觀數據支撐。
更新時間：2025-11-12
產品型號：
瀏覽量：16
白光干涉儀S neox的高反射表面測量；Sensofar S neox通過可調光源、偏振附件與優化算法，有效抑制高反光表面過曝，實現對拋光金屬、硅片等樣品的高質量三維測量。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：13白光干涉儀S neox在微納技術中的角色：Sensofar S neox以三維、高分辨率、非接觸測量能力，精準表征MEMS、微流道及光子晶體等微納結構的形貌與尺寸，助力微納技術的研發與質量控制。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：17白光干涉儀S neox的易維護性設計：Sensofar S neox采用模塊化設計與穩定結構，配備清晰的校準向導與狀態監控，顯著降低維護難度與成本，保障設備長期穩定運行。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：14白光干涉儀S neox的快速測量表現：Sensofar S neox通過高速硬件、智能掃描算法與并行計算，顯著提升三維測量的定位、采集及重建效率，在保證精度的同時滿足工業現場快速檢測需求。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：17白光干涉儀S neox的技術融合之道：Sensofar S neox創新性地將共聚焦、白光干涉和形貌對比三種技術融于一體，可根據樣品特性智能切換或協同工作，實現從粗糙到光滑表面的高效、精準三維測量。
更新時間：2025-11-12產品型號：瀏覽量：18